Product Demonstration
符合标准:
MIL-STD-883D、GJB597等试验标准。
适用范围:
适用于各种封装形式的78XX、79XX、117、137、200等系列的集成稳压电路进行高温条件下寿命老化。
技术特点:
一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化。
试验条件可从老化器件数据库直接调出，方便操作。
电子负载工作电流，试验电压可程控设定。
电子负载具有双向性。
可监测全过程试验器件的结温Tj(此功能非标配)。
