Product Demonstration
符合标准:
JEDEC、 AEC-Q101等标准。
适用范围:
适用于各种封装形式的二极管、三极管、场效应管、可控硅、单管IGBT等器件在高温高湿条件下进行反向偏压试验。
技术特点:
实时监测每个试验器件的漏电流。
全过程试验数据保存于硬盘中，可输出Excel试验报表和绘制全过程漏电流IR变化曲线。
