Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等试验标准。
适用范围:
适用于各种封装形式的微波功率器件在高温下的正向寿命试验。
技术特点:
针对大功率微波器件每颗器件独立加热板温控。
每颗器件独立的Vd、Vg控制，独立的Id控制。
兼容稳态寿命、间歇寿命试验 。
