Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128等试验标准。
适用范围:
适合各种封装形式的二极管间歇寿命试验。
技术特点:
每个回路加热电流IH、测试电路Im独立程序控制。
监控每颗器件的△TJ或者TJ。
可兼容稳态寿命和间歇寿命试验。
